[行業(yè)動(dòng)態(tài)]：比亞迪申請(qǐng)檢氦裝置、電池檢測(cè)系統(tǒng)和氦檢方法專利，顯著縮小氦檢誤差
2025-05-15 09:18
來(lái)源：隆眾資訊
作者：陳玉凱
- 手機(jī)看文章
- 資訊監(jiān)督
- 打印
- 評(píng)論
國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，比亞迪股份有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“檢氦裝置、電池檢測(cè)系統(tǒng)和氦檢方法”的專利，公開(kāi)號(hào)CN119803795A，申請(qǐng)日期為2024年10月。
專利摘要顯示，本申請(qǐng)公開(kāi)了一種檢氦裝置、電池檢測(cè)系統(tǒng)和氦檢方法，屬于電池氦檢技術(shù)領(lǐng)域。所述檢氦裝置包括：檢氦主管路；檢氦密封頭，所述檢氦密封頭用于在檢氦前罩設(shè)于待檢測(cè)電池的蓋帽外以形成檢氦腔體，所述檢氦腔體連通于所述檢氦主管路；檢漏儀，所述檢漏儀可選擇性地連通于所述檢氦主管路；檢氦真空泵，所述檢氦真空泵可選擇性地連通于所述檢氦主管路；標(biāo)準(zhǔn)漏孔，所述標(biāo)準(zhǔn)漏孔可選擇性地連通于所述檢氦主管路，被配置為標(biāo)定所述檢氦裝置的誤差率。通過(guò)在檢氦主管路上增設(shè)標(biāo)準(zhǔn)漏孔，實(shí)現(xiàn)了對(duì)檢氦裝置以及待檢測(cè)電池的全面標(biāo)定，能夠綜合考慮各種因素對(duì)氦檢結(jié)果的影響，并對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行精準(zhǔn)補(bǔ)償，從而顯著縮小氦檢的誤差，提高氦檢的準(zhǔn)確性和可靠性。
資訊編輯：陳玉凱
資訊監(jiān)督：陳玉凱
資訊投訴：李倩 0533-7026993
免責(zé)聲明：Mysteel發(fā)布的原創(chuàng)及轉(zhuǎn)載內(nèi)容，僅供客戶參考，不作為決策建議。原創(chuàng)內(nèi)容版權(quán)歸Mysteel所有，轉(zhuǎn)載需取得Mysteel書(shū)面授權(quán)，且Mysteel保留對(duì)任何侵權(quán)行為和有悖原創(chuàng)內(nèi)容原意的引用行為進(jìn)行追究的權(quán)利。轉(zhuǎn)載內(nèi)容來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，目的在于傳遞更多信息，方便學(xué)習(xí)與交流，并不代表Mysteel贊同其觀點(diǎn)及對(duì)其真實(shí)性、完整性負(fù)責(zé)。